透射电子显微镜(TEM)制样有什
透射电子显微镜(TEM)样品主要有薄膜样品和复型样品两种。
其主要要求有:
1) 供TEM分析的样品必须对电子束是透明的,通常样品观察区域的厚度以控制在100〜200nm为宜。
2) 所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征。因此,样品制备时不可影响这些特征,如已产生影响则必须知道影响的方式和程度。
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透射电子显微镜(TEM)样品主要有薄膜样品和复型样品两种。
其主要要求有:
1) 供TEM分析的样品必须对电子束是透明的,通常样品观察区域的厚度以控制在100〜200nm为宜。
2) 所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征。因此,样品制备时不可影响这些特征,如已产生影响则必须知道影响的方式和程度。
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