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芯片测试中的测试向量是如何生成的?

2024-02-21 07:10:13 举报
其他答案
2024-02-21 07:11:33
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芯片测试中的测试向量是通过一系列步骤生成的,这些步骤旨在确保对芯片进行完整且有效的测试。以下是测试向量生成的一般过程:
确定测试需求:首先,需要明确测试的目标和要求,包括要测试的功能点、性能参数、接口规范等。这有助于指导后续的测试向量设计和生成。
设计测试计划:根据测试需求,制定详细的测试计划,包括测试方法、测试环境、测试工具的选择以及测...[展开]

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