半导体测试系统有什么功能？

用于全面自动检验半导体设备静态参数的通用测试和测量系统，包括：场效应管和双极型晶体管、绝缘栅双极型晶体管、二极管、晶闸管、稳压管、光导发光组件和微电子组件，以及： ● 电容测量：用于场效应晶体管和绝缘栅双极型晶体管的输入、交叉和输出电容。半导体测试系统 FORMULA® TT3 由FORMULA® TT3 ATE提供的各个阶段的高水平全面自动化测试过程，使得我们有可能专注于半导体器件测试的运行特性和偏差分析上。 硬件/软件、设计以及在系统测试中实现的计算解决方案保证了高度可靠的结果，这些结果使测试人员的工作不受程序和误差的影响，并在工业设备进行测量和测试时显著提高操作效率。[收起]

用在进行半导体器件新开发类型的测试和研究，以及批量生产中测试时对半导体器件的质量控制。 FORMULA® TT3满足微电子测量和测试的计量标准要求。[收起]